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型號:ZJ-WD10

低壓溫升成套試驗設備

描述:低壓(ya)溫升成套試驗設(she)備(bei)(bei)大(da)電流溫升測試系統(tong)是適用(yong)于低壓(ya)成套開(kai)關設(she)備(bei)(bei)和控制設(she)備(bei)(bei)的溫升試驗。應提供完整(zheng)的系統(tong)解決(jue)方(fang)案(an)。具體配置見主要設(she)備(bei)(bei)供貨表。

  • 廠商性質

    生產廠家
  • 更新時間

    2024-04-07
  • 訪問量

    1559
詳細介紹
品牌其他品牌應用領域能源,電子,汽車,電氣,綜合

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低壓溫升成套試驗設備概述:

用(yong)途:適用(yong)于低壓成(cheng)套開關(guan)設備和控制設備的(de)溫升試驗。應提供(gong)完整的(de)系統(tong)解(jie)決方(fang)案。具體(ti)配置見主要設備供(gong)貨表。

技術要求:

試驗(yan)方法滿足GB7251.1-2013第10.10章(zhang)溫(wen)(wen)升驗(yan)證(zheng)、GB7251.1-2005第8.2.1章(zhang)溫(wen)(wen)升驗(yan)證(zheng)要求(qiu);所提供的(de)儀(yi)器要求(qiu)適用于(yu)當(dang)前國(guo)際(ji)、國(guo)內檢測(ce)方法和技術,現行有效(xiao)的(de)版本。

交流穩流電源

(1)該電源應滿足下(xia)列(lie)標準制造產品(pin)的測(ce)試(shi)要求:

GB 14048.1 IEC 60947-1:2001低壓開(kai)關設備和控(kong)制(zhi)設備總則;

GB 7251.1 -2013  IEC 60439-1:2011 ;低壓成套開關設備和控制設備第1部分:總則;

GB 7251.3-2006 低(di)壓(ya)(ya)成套開關設(she)備(bei)(bei)和控(kong)制(zhi)設(she)備(bei)(bei) 第3部分:對非專(zhuan)業人員可(ke)進入場(chang)地的低(di)壓(ya)(ya)成套開關設(she)備(bei)(bei)和控(kong)制(zhi)設(she)備(bei)(bei)  配電(dian)板的特(te)殊要求;

GB7251.5-2008 低壓成(cheng)套開(kai)關(guan)設(she)備和控制設(she)備 第5部分(fen): 對公用電(dian)網(wang)動(dong)力(li)配電(dian)成(cheng)套設(she)備的特(te)殊(shu)要求

GB7251.12-2013  低(di)壓成套(tao)開關設(she)備(bei)和(he)控(kong)制(zhi)設(she)備(bei) 第2部分: 成套(tao)電(dian)力開關和(he)控(kong)制(zhi)設(she)備(bei)

GB 11022  IEC 60694:1996 高壓開關設備和(he)控制設備標準的(de)共用技術條件(jian);

GB 13539.1 低壓熔斷器 第1部(bu)分:基本要求(qiu);

(2)使用環境(jing)條件:應(ying)具有廣泛(fan)的適應(ying)性,工作安(an)全,可靠。

(3)系統組成

交流穩流電源由電源控(kong)制、電動調(diao)壓器、電流變(bian)送器、PLC可編程控(kong)制器、電流傳(chuan)感(gan)器、觸摸式人機(ji)界面(mian)、可移動機(ji)箱(機(ji)柜)及(ji)配(pei)電接線箱組成,具體配(pei)置見下表。

交流(liu)穩流(liu)電(dian)源,能(neng)夠穩定輸出測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)電(dian)流(liu),消除(chu)由于(yu)電(dian)源電(dian)壓波動、連接導線(xian)或銅排、試(shi)(shi)(shi)品(pin)阻(zu)值變(bian)化對(dui)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)電(dian)流(liu)影響,提高測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)結果的(de)(de)(de)準(zhun)確性(xing)(xing)。該電(dian)源具有損耗小(xiao)、效率高、操作簡便,并(bing)且具有完備(bei)(bei)的(de)(de)(de)控(kong)制和檢測(ce)(ce)功(gong)能(neng)。主(zhu)要用于(yu)低壓電(dian)器設備(bei)(bei)的(de)(de)(de)溫升試(shi)(shi)(shi)驗(yan)、脫扣極(ji)限和特性(xing)(xing)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(長(chang)延時)、熔斷器熔斷特性(xing)(xing)(長(chang)延時)等(deng),亦可用于(yu)電(dian)流(liu)互感器測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)、熱磁電(dian)器的(de)(de)(de)過載延時測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi),也能(neng)夠用于(yu)配電(dian)所對(dui)繼(ji)電(dian)保護(hu)裝置的(de)(de)(de)綜合調試(shi)(shi)(shi)。

低壓溫升成套試驗設備的(de)主(zhu)要技術參(can)數(請(qing)聯系公(gong)司業務員(yuan)提供)。

 
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